Integration von Informationen aus Testprozessen im Supply Chain Management

Abstract

Die Entwicklung komplexer mechatronischer Systeme - wie Flugzeuge - erfolgt in einer Zulieferpyramide. Im Rahmen der Produktentwicklung werden ein Testprozess beim OEM und mehrere Testprozesse bei den Zulieferern durchgeführt. In dieser Arbeit wird der Funktionstest betrachtet. Es werden Testfälle implementiert, ausgeführt und deren Ergebnisse als Nachweis für die Verifikation verwendet. Zusätzlich werden Testfälle zwischen den Testprozessen ausgetauscht, wenn Probleme auftreten. Testfälle nehmen somit eine zentrale Rolle als Informationsträger ein. Der Einsatz von Testfällen wird durch die Heterogenität der Testprozesse innerhalb der Supply Chain erschwert. Jeder Testprozess verfolgt spezifische Ziele, weshalb Testfälle in der Zulieferpyramide in unterschiedlichen Testskriptsprachen implementiert werden, obwohl sie ähnliche Sachverhalte beschreiben. Diese Ausgangssituation reduziert die Bedeutung der Testfälle vom Informationsträger zum Datenträger und führt zu einem Informationsverlust beim Austausch der Testfälle innerhalb der Testprozesse. Ziel dieser Arbeit ist es, die informationstechnischen Grundlagen für die Integration von Testfällen als Informationsträger in die Zulieferpyramide zu erforschen. Der Fokus liegt dabei auf der Interoperabilität von Testfällen. Das hierfür entwickelte Konzept ist die kollaborative Fehlersuche, die sowohl den interoperablen Austausch von Testfällen als auch deren Nutzung als Informationsträger für die Fehlersuche ermöglicht. Das Ergebnis sind drei Fehlersuchmethoden als Bestandteil der Fehlersuche, mit deren Hilfe die Interoperabilität von Testfällen für den direkten Austausch von Testfällen und für die Suche nach Informationen innerhalb von Testfällen hergestellt wurde. Für beide Fälle wurden Informationsmodelle für Testfälle und entsprechende Datenintegrationslösungen entwickelt. Die Evaluierung wurde in den Testprozessen für Hochauftriebsklappen und Kabinentüren von Flugzeugen durchgeführt.