Improving Security for Elliptic Curve Implementations on Smart Cards: A Random Number Generator Test Unit
| Datei | Beschreibung | Größe | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 00010630.pdf | 1.27 MB | Adobe PDF | Anzeigen |
| Sonstige Titel: | Verbessern der Sicherheit für elliptische Kurve Implementierungen auf Smart Cards: Ein Zufallszahlengenerator-Testeinheit | Autor/Autorin: | Weigl, Andrew | BetreuerIn: | Anheier, Walter | 1. GutachterIn: | Anheier, Walter | Weitere Gutachter:innen: | Laur, Rainer | Zusammenfassung: | We present a new random number gernator test unit for smart cards that has the same test quality (for the error types studied) as a test unit following the FIPS 140-2 standard, but with lower hardware characteristics and requires a short sample sequence. |
Schlagwort: | Random Number Generator; Testing; RNG; FIPS 140-2; Smart Card | Veröffentlichungsdatum: | 24-Jul-2006 | Dokumenttyp: | Dissertation | Zweitveröffentlichung: | no | URN: | urn:nbn:de:gbv:46-diss000106308 | Institution: | Universität Bremen | Fachbereich: | Fachbereich 01: Physik/Elektrotechnik (FB 01) |
| Enthalten in den Sammlungen: | Dissertationen |
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